模拟集成电路的参数测试方法

   与数字集成电路不同,模拟集成电路的参数与具体产品相关性比较大,不同类别的集成电路可能具有完全不一样的参数,参数相对比较繁杂,本节列举几个参数讨论其测试方法。

   DAC输出失调电流 H8YCZ0CI0MAR-3DD-C

   DAC输出失调电流测试原理如图49所示。图49为一个器件内部集成的DAC,测试时,将DAC配置成最小输出,测量DAC的输出电压,用测量到的电压值除以DAC输出脚的接地电阻即为DAC输出失调电流。因此类电压一般比较小,且易受干扰,工程实际中用ATE直接测试电压不太可行,应想方法排除干扰进行准确测试。

   图⒋9 DAC输出失调电流测试原理图

    DAC增益误差

    DAC增益误差原理如图⒋10所示,将DAC配置成最小输出,测量DAC的输出电压,用测量到的电压值除以DAC输出脚的接地电阻即为DAC输出失调流。将DAC配置成满幅输出,测量DAC的输出电压,用测量到的电压值除以DAC输出脚的接地电阻即为DAC满幅输出电流。DAC的满幅输出电流与DAC输出失调电流之差即为DAC输出的实际满刻度范围,实际满刻度与理想满刻度之差与理想满刻度的比值即为DAC增益误差。