可靠性寿命试验

   可靠性寿命试验是评价分析产品的寿命特征的试验。通过寿命试验可了解产品的寿命分布统计规律,作为评价产品可靠性的重要依据。主要包括储存寿命试验、 HCPL-5601工作寿命试验、加速寿命试验等。

   (1)储存寿命试验用于考核电子元器件在储存条件下的寿命指标,试验时不加电。

   (2)工作寿命试验用于考核电子元器件的工作寿命指标。连接器、接插件、开关等机电产品的寿命试验一般是用机械寿命试验项目来考核其可靠性寿命的,用连接器的插拔次数、开关的推动、拨动次数等来表征;电磁继电器的寿命试验有加电带负载的工作寿命试验和不加电的触点转换机械寿命等试验项目;阻容元件及部分电子器件是用高温下的电负荷寿命来表征的。

   (3)加速寿命试验是一种不改变产品在实际使用条件下的失效机理,且不增加新的失效机理的前提下,用加大应力的方法来加速产品失效,根据其试验结果预计实际使用条件下产品的寿命。采用加速寿命试验,可以解决对于可靠性要求较高的产品进行寿命试验时需要很长的试验周期和大量的试验样品的问题。加速寿命试验可分为恒定应力加速寿命试验、步进应力加速寿命试验和序进应力加速寿命试验。

   可靠性试验还有失效率试验。电子元器件常用失效率试验确定和评价产品的可靠性寿命,它是可靠性评价试验的一种。产品的失效率是时间的函数,一般来说,产品的失效率曲线有递增型、递减型、恒定型。在长期的可靠性实践中,人们发现许多产品服从一条典型的失效率曲线,称之为“浴盆曲线”(见图⒉2)。