试验前的准备工作

   1)样品的准各

    由于重离子加速器加速的离子的能量和射程的原因,进行单粒子试验的样品在试验前应进行开帽。 GAL16V8D-25LPN如果被测器件的芯片表面具有保护层,应该去除这种保护层,以保证入射粒子在芯片中具有足够的射程。为防止芯片在开帽过程中损坏,开帽后的样品应该进行电参数测试,只有测试合格的样品才能进行单粒子试验。

   2)电缆及试验测试板的准各

    单粒子试验通常在真空罐中进行,试验时,需要通过电缆和真空密封插头将试验测试板与外部的测试系统连接。试验板和电缆需要满足以下条件:

   (l)试验板和电缆的尺寸、质量满足真空罐的要求;

   (2)连接电缆满足真空罐的硬件接口要求;

   (3)试验板和电缆不含吸附气体严重的材料;

   (4)试验板的安装孔位符合真空罐的要求;

   (5)保证试验板上的除被测器件外的其他元器件不受辐照的影响;

   (6)试验板和电缆具备良好的抗电磁千扰能力。