单粒子效应截面(sEE Cross scctioll)

   单粒子效应截面σ表示为单粒子事件发生的机率,单粒子事件截面, M24C64-WDW6TP单位为平方厘米每器件或平方匣米每位(cm2'器件或cm2/位);

NL一发生单粒子事件的数量;

   注量(也称通量),为器件单位面积(cm2)入射的总的粒子数,单位为粒子数每平方厘米(粒子数允m2)。

   截面表示被测试器件的单粒子效应的敏感度,截面越大,表示器件抗单粒子效应的能力越差。

   单粒子饱和截面与LET阈值

   单粒子试验的目的是通过试验,获得器件单粒子事件截面淌入射离子LET的关系曲线,为器件的在轨单粒子事件率(单粒子试验发生的几率)提供数据。LET的关系曲线示意图如图3-16所示。由图3-16可以看出,随着入射粒子LET值的增加,器件的单粒子截面将会不断增大。当入射粒子的LET值达到某一值后,继续增加射粒子的LET值时,器件的单粒子截面将不会再增加,该截面称为单粒子饱和截面负缸。LET阈值定义为在给定的注量下,使器件发生单粒子事件的最小的LET值。但是由于试验设各及试验资源的原因,实际试验过程中,通过辐照试验得到器件发生单粒子事件的最小的LET值往往比较困难,因此,标准中叉将LET阈值定义为1%饱和截面所对应的

LET值。