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   对产品进行可靠性试验，根据试验的目的来选用试验方法、试验条件、确定失效判据，选择抽样方式，最后对产品进行可靠性评价的结果符合什么可靠性等级，这在国内、国际上制定的各种现有可靠性技术标准中几乎都有明确规定。这说明对于电子元器件质量和可靠性水平，在国际上已有统一的标准。对于电子元器件产品适用于民用、工业用、军用和宇航用都有相应的标准或相应的等级要求，这为开展可靠性试验提供了理论依据。

   JIS[Japanese Industrial Standard(日本行业标准)]

    JIS C 7021:分立半导体器件的环境试验方法和疲劳试验方法

    JIS C 7022:半导体集成电路的环境试验方法和疲劳试验方法

    EIAJ[Standard Electronic Industries Association of Japan(日本电子行业协会标准)]

   SD-121：分立半导体器件的环境和疲劳性试验方法

   IC-121：集成电路的试验及疲劳性试验方法

   其他：NASA标准，CECC标准，防卫厅标准，汽车工业标准等

   用于电子元器件可靠性试验的主要试验方法标准如表3.6所示，其中过去美军的MIL标准一直在世界上占主要地位。因为现在在国际上存在着电子元器件可靠性国际认证问题，所以IEC标准正逐渐成为主流。我国这方面的大多数标准是参考MII)标准和IEC标准制定的。世界各国的电子元器件生产厂也都按照这些标准规定的方法进行操作。

   IEC标准[International Electrotechnical Commission(圉际电工委员会)]68号出版物：基本环境试验法

   147 5号出版物：半导体器件的机械及耐气候性试验方法

   MIL标准[Military Standard(美国军用标准)]

   MIL-STD-202:电子、电器元器件试验方法

   MIL-STD-750:分立半导体器件试验方法

   MIL-STD-833:微电子器件试验方法

   BS[British Standard（英国标准）]

   BS-9300：半导体器件试验方法

   BS-9400: lC试验方法