高阻状态下测试时,在掉电的瞬间,由于C1两端存在电压,其中的能量会继续提供给DC/DC电源模块工作一段时间,同时Cl中的能量因DC/DC电源模块的工作而迅速被消耗掉,即Cl两端的电压迅速降低,SN1304056RSBR直到C1两端的电压不能使DC/DC电源模块正常I作,从-31Ⅴ开始DC/DC电源就不处于正常工作状态,因此消耗也大大减少,Cl两端的电压下降也变得非常缓慢。这就是产品在高阻状态下测试时,C1两端的电压没有很快跌到零,而会保持-31Ⅴ一段时间的原因。

   另外,由于C1两端的电压下降使DC/DC电源模块停止I作后,使得原来那些由DC/DC电源模块供电的后一级集成电路,只能靠C2来维持一段时间,但是集成电路不像DC/DC电源模块那样有很宽的正常工作电压范围。据统计,-般集成电路的正常工作电压是额定电压的±5%,这个电压范围很难由C2来维持一段较长的时间,通常DC/DC电源模块的输出电压为零,集成电路也很快消耗C2中的能量,使C2两端的电压小于正常电压的呖%,这时集成电路相当于掉电,即出现系统复位现象。    

   为何在低阻状态下进行测试时,增加储能电容的值,“保护”现象无明显的改善,而在高阻状态下却效果明显?