EFT测试时被测样品处于正常工作状态。 R1140Q281B-TR根据被测样品端口类型选择相应的试验等级和耦合方式。(对某一具体被测样品,试验等级及合格判定准则由产品或产品簇标准规定。)

   对交/直流电源端子应选择耦合/去耦网络来施加E凹干扰信号,耦合电容为33nF。对I/0信号、数据和控制端口选择E「r测试专用的容性耦合夹来施加E胛干扰信号,被测电缆与容性耦合夹之间的等效耦合电容为50~⒛0pF(旧标准要求)或100~10OOpF(新标准要求)。

   使受测设备处于典型工作条件下,根据其端口及其组合,依次施加试验电压。对交/直流电源端口,应通过耦合/去耦网络在每一根传输线及传输线的各种组合与地之间施加EFT干扰信号。对一般电子、电气产品来说,交/直流电源端口必须进行测试。

   对I/0信号、数据和控制端口的连接电缆进行E田测试时,一般将单根电缆整体放人容性耦合夹进行测试,不同的端口电缆应分别进行测试。完全相同接口的多根电缆一般只需取其中一根电缆进行测试。实际使用中若信号、数据和控制端口连接电缆较短,则一般无须进行测试。哪些端口需要该项测试由产品或产品簇标准进行规定。

   每种组合应在正、负两种脉冲极性下分别进行测试,每种测试状态的试验持续时间不少于1mh。在试验过程中应密切监视被测设备的反应,并进行记录,并将该反应与合格判定准则进行比较,以判定被测样品是否合格。不同的产品或产品簇标准根据试验对象的特点,在产品测试方面有不同的规定。