若判断测试失败是RFI通过外壳对EUT内部的直接辐射引起的,可按照以下步骤处理。

   对非金属外壳,M24256-BRMN6TP由于外壳对干扰没有任何屏蔽作用,干扰直接进人内部电路,此时应在非金属外壳内部增加金属屏蔽层,或对EUT内部敏感电路局部屏蔽来解决。

   对金属外壳,要查找外壳上是否存在大的孔、洞、缝隙。首先检查外壳的各个部件之间是否连接良好,是否存在外壳各部分之间的接触面为了防锈而喷涂了非电导保护漆,若存在该情况,应去掉保护漆,让各部件在接触面实现良好电气连接(为防止该连接面生锈,可在相应位置喷涂导电良好的保护漆)。

   必要时应在各接触面加上导电衬垫,防止因紧固螺钉引起接触面形变形成接触不良和接口缝隙。若问题依然存在,再在EUT外壳上大的孔、洞、缝隙上粘贴导电金属箔,一边粘贴一边检测,若粘贴到某个位置后敏感问题消失了,则处理对应孔洞。然后,一个一个去掉孔洞的金属箔,同时进行检测,若敏感问题重新出现,再处理对应孔洞。若每个孔洞的问题均得以解决,则该敏感点的问题就解决了。