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测试单个设备或系统的抗静电干扰能力

发布时间:2017/3/23 21:21:16 访问次数:437

   1.试验对象

   该标准所涉及的是处于静电放电环境中和安装条件下的装置、系统、 BCM56304B1KEBG子系统和外设。

   2.试验内容

   ESD的起因有多种,但该标准主要描述在低湿度情况下通过摩擦等因素使操作者积累了静电,电子和电气设备遭受直接来自操作者的ESD和对临近物体的EsD的抗扰度要求和试验方法。对电子产品而言,因操作者的ESD造成设备受干扰或损坏的概率相对其他ESD起因大得多,若电子产品能提高针对因操作者的ESD抗扰性,则针对因其他因素的ESD抗扰性也会有相应地提高。

   3.试验目的

   测试单个设备或系统的抗静电干扰能力。它模拟操作人员或物体在接触设备时的放电,以及人或物体对邻近物体的放电。

    

   4.EsD的模拟

   如图16-1和图16-2分别给出了ESD发生器的基本电路和放电电流的波形。如图16-1所示高压真空继电器是目前唯一的能够产生重复与高速放电波形的器件(放电开关)。如图16-2所示标准放电电流波形,Jm表示电流峰值,上升时间莎r=(0.7~1)Ⅱ。如图16J所示静电放电电路中的储能电容Cs代表人体电容值,现公认150pF比较合适。放电电阻Rd的阻值为330Ω,代表手握钥匙或其他金属工具的人体电阻。现已证明,用这种放电状态来体现人体放电的模型是足够的。





   1.试验对象

   该标准所涉及的是处于静电放电环境中和安装条件下的装置、系统、 BCM56304B1KEBG子系统和外设。

   2.试验内容

   ESD的起因有多种,但该标准主要描述在低湿度情况下通过摩擦等因素使操作者积累了静电,电子和电气设备遭受直接来自操作者的ESD和对临近物体的EsD的抗扰度要求和试验方法。对电子产品而言,因操作者的ESD造成设备受干扰或损坏的概率相对其他ESD起因大得多,若电子产品能提高针对因操作者的ESD抗扰性,则针对因其他因素的ESD抗扰性也会有相应地提高。

   3.试验目的

   测试单个设备或系统的抗静电干扰能力。它模拟操作人员或物体在接触设备时的放电,以及人或物体对邻近物体的放电。

    

   4.EsD的模拟

   如图16-1和图16-2分别给出了ESD发生器的基本电路和放电电流的波形。如图16-1所示高压真空继电器是目前唯一的能够产生重复与高速放电波形的器件(放电开关)。如图16-2所示标准放电电流波形,Jm表示电流峰值,上升时间莎r=(0.7~1)Ⅱ。如图16J所示静电放电电路中的储能电容Cs代表人体电容值,现公认150pF比较合适。放电电阻Rd的阻值为330Ω,代表手握钥匙或其他金属工具的人体电阻。现已证明,用这种放电状态来体现人体放电的模型是足够的。





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