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TFEL器件最新进展

发布时间:2016/10/21 18:26:50 访问次数:440

   夹层结构中的绝缘层被一系列电子加速层所代替,就是通常所说的分层优化结构。

   在这种结构中,从电极OM5178HL处发射的电子,在这些加速层中被多次加速,获得了足够高的能量,然后进人发光层,碰撞激发发光中心,实现发光。这种加速过程和发光过程的分离,使我们能够独立地对各层进行分层优化。这无论是对电子能量、发光亮度,还是对发光效率,都具有重要意义。

   无机TFEL研究的一般方法

   (1)薄膜的制各。

   (2)器件性能的测量。一般说来,对于做成的器件,都需要进行器件性能检测。这些性能可以通过激发光谱、发射光谱、吸收光谱、亮度电压曲线、传导电流等反映出来,它们分别反映了器件不同方面的性能。

   (3)结构和成分分析。

   夹层结构中的绝缘层被一系列电子加速层所代替,就是通常所说的分层优化结构。

   在这种结构中,从电极OM5178HL处发射的电子,在这些加速层中被多次加速,获得了足够高的能量,然后进人发光层,碰撞激发发光中心,实现发光。这种加速过程和发光过程的分离,使我们能够独立地对各层进行分层优化。这无论是对电子能量、发光亮度,还是对发光效率,都具有重要意义。

   无机TFEL研究的一般方法

   (1)薄膜的制各。

   (2)器件性能的测量。一般说来,对于做成的器件,都需要进行器件性能检测。这些性能可以通过激发光谱、发射光谱、吸收光谱、亮度电压曲线、传导电流等反映出来,它们分别反映了器件不同方面的性能。

   (3)结构和成分分析。

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