半导体器件的寿命长、稳定可靠,所以其失效特性有特殊的地方。 DAC7612U可以看出半导体器件的早期失效期和普通元器件相同,失效率随时间增加而迅速下降。其失效原因通常由于原材料的缺陷和工艺因素所引起。在偶然失效期,其失效率低且有随时间递减的趋势,这一阶段的失效率近似为常数,这是半导体器件的稳定工作的时期。半导体器件没有耗损失效期,即没有失效率随时间而增大的耗损失效阶段,这是其特殊性所在。类似半导体器件的失效规律的元器件还有固体钽电解电容器。

   元器件的可靠性计算

   一般元器件的可靠性通常用经过大量试验统计得出的失效率来表征。由于元器件都工作在偶然失效期,其失效率为常数,上式说明了正常工作概率(可靠度)在时间上是按指数衰减的。

   使用条件对元器件可靠性的影响

   元器件的使用条件包括工作环境条件和负荷条件。工作环境条件不同元器件的失效率变化很大,有时可相差几百倍,一般地说,所处的条件越恶劣,其失效率越大。