当两束相干光束的频率相同时，若被测量变化使相干光波的相位发生变化，再通DAC712U过干涉作用把光波相位的变化变换为干涉条纹的强度变化，则这个过程称为单频光波的相位调制。

   相位调制与检测的原理

   实际上，干涉条纹的强度取决于相干光的相位差，

射率门对光的传播距离出的线积分，厶为真空中的光波波长；/为光经过的路程。

   对于均匀介质n，可简化为而相位差又取决于光传输介质的折对中的变量三和疗做全微分可得到相位变化量光波传播介质折射率和光程长度的变化都将导致相千光相位的变化，从而引起干涉条纹强度的改变。干涉测量中就是利用这一性质改变光载波的特征参量，以形成各种光学信息的。能够引起光程差发生变化的参量有很多，如几何距离、位移、角度、速度、温度引起的热膨胀等，这些参量都会引起光波传播距离的改变；介质的成分、密度、环境温度、气压以及介质周围的电场、磁场等能引起折射率的变化；从物体表面

反射光波的波面分布可以确定物体的形状。因此，光学干涉技可以用于检测非光学参量，是一种非常有效的检测手段。

   因此，相位调制通常是利用不同形式的干涉仪，借助机械的、光学的、电子学的变换器件，将被测量的变化转换为光路长度三和折射率刀的变化，用于检测几何和机械运动参量，分析物质的理化特性。