这一工作环节可以设置在被检测对象前面，也可以设置在光学变换后面，应按D07225G实际要求来决定。通常，在检测中，表征待测量的光信号可以是光强度的变化、光谱的变化、偏振的变化、各种干涉知衍射条纹的变化，以及脉宽或脉冲数等。要使光源发出的光或产生的携带各种待测信号的光与光电探测器等环节间实现合理的、甚至最好的匹配，经常需要对光信号进行必要的处理。例如．光信号过强时，需要进行中性减光处理；入射信号光束不均匀时，则需要进行均匀化处理；进行交流检测时，需要对信号光束进行调制处理；等等。总之，光信号匹配处理的主要目的是为更好地获得待测量的信息，以满足光电转换的需要。光信号的处理主要包括光信号的调制、变光度、光谱校正、光漫射，以及会聚、扩束、分束等。使用的光学器件可以是透镜、滤光片、光阑、光楔、棱镜、反射镜、光通量调制器、光栅等。

   以上讨论的三个环节往往紧密结合在一起，目的是把待测信息合理地转换为适于后续处理的光信息。