金属膜电阻器的失效分析
发布时间:2015/6/28 19:51:35 访问次数:2667
金属膜电阻器是以合金粉为原材料,通过真空高温蒸发的方式,MCBX167-NET将其沉积在绝缘瓷棒上,形成一层金属膜,然后,进行高温热处理,使之形成结构致密、完善、电性能优良的电阻膜。然后,再通过加引线帽,切割螺旋槽,调整阻值,涂护漆层等工艺而形成。
金属膜电阻器的失效模式主要有:开路、短路、阻值的异常漂移和超差(out oftolerance.超出标准值的公差范围)等。这些失效与产品生产过程和使用条件以及本身存在各种缺陷有密切关系。导致电阻器开路的失效机理主要原因有:瓷心基体破裂、电阻膜破裂,电阻膜分解以及引线断裂等。导致短路的原因有:电晕放电、银迁移等。阻值的异常漂移和超差是金属膜电阻失效的主要模式。它是由于导电膜层的厚度不均匀,有疵点、膜层的螺旋槽间有导电沾污物,以及膜层与帽盖的接触不良等原因,这些原因均导致电压分布不均匀,存在着很高的电位梯度和严重的局部过热,严重时导致击穿或烧毁。通常由缺陷引入潮气可使金属膜电阻器局部电解,从而使阻值发生显著的漂移,或加速膜层的氧化
和有机材料的显著老化,然后也引起阻值的显著漂移。
金属膜电阻器是以合金粉为原材料,通过真空高温蒸发的方式,MCBX167-NET将其沉积在绝缘瓷棒上,形成一层金属膜,然后,进行高温热处理,使之形成结构致密、完善、电性能优良的电阻膜。然后,再通过加引线帽,切割螺旋槽,调整阻值,涂护漆层等工艺而形成。
金属膜电阻器的失效模式主要有:开路、短路、阻值的异常漂移和超差(out oftolerance.超出标准值的公差范围)等。这些失效与产品生产过程和使用条件以及本身存在各种缺陷有密切关系。导致电阻器开路的失效机理主要原因有:瓷心基体破裂、电阻膜破裂,电阻膜分解以及引线断裂等。导致短路的原因有:电晕放电、银迁移等。阻值的异常漂移和超差是金属膜电阻失效的主要模式。它是由于导电膜层的厚度不均匀,有疵点、膜层的螺旋槽间有导电沾污物,以及膜层与帽盖的接触不良等原因,这些原因均导致电压分布不均匀,存在着很高的电位梯度和严重的局部过热,严重时导致击穿或烧毁。通常由缺陷引入潮气可使金属膜电阻器局部电解,从而使阻值发生显著的漂移,或加速膜层的氧化
和有机材料的显著老化,然后也引起阻值的显著漂移。
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