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SN74BCT8373ADW详细规格: 类别：逻辑 - 专用逻辑; 描述：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC; 系列：74BCT; 制造商：Texas Instruments; 逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型锁存器; 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V; 位数：8; 工作温度：0°C ~ 70°C; 安装类型：表面贴装; 封装/外壳：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）; 供应商器件封装：24-SOIC; 包装：管件

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