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8V182512IDGGREP详细规格: 类别：逻辑 - 专用逻辑; 描述：IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP; 系列：-; 制造商：Texas Instruments; 逻辑类型：ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器; 电源电压：2.7 V ~ 3.6 V; 位数：18; 工作温度：-40°C ~ 85°C; 安装类型：表面贴装; 封装/外壳：64-TFSOP （0.240"，6.10mm 宽）; 供应商器件封装：64-TSSOP; 包装：Digi-Reel®

8V182512IDGGREP详细规格: 类别：逻辑 - 专用逻辑; 描述：IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP; 系列：-; 制造商：Texas Instruments; 逻辑类型：ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器; 电源电压：2.7 V ~ 3.6 V; 位数：18; 工作温度：-40°C ~ 85°C; 安装类型：表面贴装; 封装/外壳：64-TFSOP （0.240"，6.10mm 宽）; 供应商器件封装：64-TSSOP; 包装：剪切带 (CT)

8V182512IDGGREP详细规格: 类别：逻辑 - 专用逻辑; 描述：IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP; 系列：-; 制造商：Texas Instruments; 逻辑类型：ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器; 电源电压：2.7 V ~ 3.6 V; 位数：18; 工作温度：-40°C ~ 85°C; 安装类型：表面贴装; 封装/外壳：64-TFSOP （0.240"，6.10mm 宽）; 供应商器件封装：64-TSSOP; 包装：带卷 (TR)

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