- 偏置补偿2019/7/6 20:24:41 2019/7/6 20:24:41
- 偏置补偿在理想的情况下,当把电压表连接到阻抗比较低或没有电势差的回路时,电压理论应该为0Ⅴ,FAN1587D但是电路中的若干误差源可以引起非零的偏置量,如图1127所示。...[全文]
- 两线电阻测量2019/7/6 20:23:05 2019/7/6 20:23:05
- 两线电阻测量两线电阻测量用于低阻测试的主要问题是测量结果中增加了引线的总电阻,如11-25所示。FAN1585AD由于测试电流在引线电阻上产生了一个很小的电压降,因此,电压表测量的...[全文]
- 机械相位稳定性2019/7/6 20:19:38 2019/7/6 20:19:38
- 机械相位稳定性弯折、扭转、反复弯曲等机械应力的长期作用会造成内导体和外导体的机械硬化,使电缆的物理长度发生变化,从而引起相位的变化。外导体结构以及电缆各部分之间在弯曲等机械应力作用...[全文]
- 耐电压试验2019/7/5 21:11:17 2019/7/5 21:11:17
- 耐电压试验H5DU5162ETR-E3C电线的耐电压试验可按浸水电压GJB17.2SzI、脉冲电压GJB17.4“、高频火花电压规定的方法之一进行。浸水电压GJB17,2一胼是...[全文]
- 按照电连接器数据传输性能测试方法的相关规定进行2019/7/5 20:52:44 2019/7/5 20:52:44
- 按照电连接器数据传输性能测试方法的相关规定进行,主要测试方法如下:H5DU2562GTR-E3C(l)测量包括测试夹具、设备和连接线在内的测试系统上升时间,测试上升时间通常在10%...[全文]
- 射频连接器2019/7/5 20:48:16 2019/7/5 20:48:16
- 射频连接器1.接触电阻按照GJB-81A-20⒆方法4.5。14中规定将连接器接触件通过规定的直流电流,用电压表探针测量接触件两端的电压降,从而计算得到接触电阻的数值...[全文]
- 低频连接器2019/7/5 20:44:54 2019/7/5 20:44:54
- 低频连接器1.介质耐电压低频连接器通常在间距最近的接触件之间及连接器外壳与最靠近外壳的接触件之间进行测量。H5DU1262GTR-J3C按照GJB121...[全文]
- 低频连接器的电气性能主要包括介质耐电压2019/7/4 20:38:11 2019/7/4 20:38:11
- 低频连接器低频连接器的电气性能主要包括介质耐电压、绝缘电阻、接触电阻、低电平接触电阻、磁导率、外壳间导电性等。1,介质耐电压IC42S16160B-7TL...[全文]
- 连接器又称接插件2019/7/4 20:25:01 2019/7/4 20:25:01
- 连接器又称接插件,是与相应的插合元件进行连接和分离从而实现电路通断的元件。连接器按使用频率可分为低频连接器(工作频率<3N【IIz)和射频连接器(工作频率≥3MHz);按外形结构可分为圆形...[全文]
- 工程应用中的误差分析2019/7/3 21:36:34 2019/7/3 21:36:34
- 工程应用中的误差分析焦平面器件测试过程中,因为一些标准部件和相应测试装置参与表征焦平面的特性,HA7207PC因此,会给焦平面性能参数的测量带来诸多误差。这些误差可能来自测试系统的...[全文]
- 泛光模式测试2019/7/3 21:34:26 2019/7/3 21:34:26
- 泛光模式测试泛光模式测试包括噪声、响应率、噪声等效温差、噪声等效辐照功率、探测率、不均匀性和线性度。HA5351IB所有这些测试使用黑体,选定一个或一系列温度对探测器列阵进行泛光照...[全文]
- 光电测试系统结构2019/7/3 21:24:31 2019/7/3 21:24:31
- 而在测量“电一光”能量转换效率时,用积分法获得发光总功率,此时应在白色的积分球内对被测发光二极管进行测量。另外,某些光电子器件发热量大,HA3-2525-5或者性能指标对温度比较敏感,必要时需要...[全文]
- 给发光二极管施加规定电流2019/7/2 21:20:35 2019/7/2 21:20:35
- 测量程序1)发光二极管、红外二极管或单模激光二极管的峰值发射波长和光谱辐射带宽(见图10-14)。H5PS1G43EFR-Y5C(1)给发光二极管施加规...[全文]
- 光发射器件的发光强度2019/7/2 21:15:55 2019/7/2 21:15:55
- 光发射器件的发光强度测量半导体发光二极管和红外发光二极管(以下统称发光二极管)的发光强度。该方法适用于三种状态下对发光强度的测量:状态⒈将发光二极管绕机械轴旋转,测量...[全文]
- 响应率、响应率不均匀性、噪声、等效温差、探测率和有效像元率参数测试2019/7/2 21:00:04 2019/7/2 21:00:04
- 响应率、响应率不均匀性、噪声、等效温差、探测率和有效像元率参数测试参数定义(1)响应率GS8322Z72C-166像元响应率:焦平面在一定帧周期或行周期...[全文]
- 红外光电及焦平面组件测试和试验标准讨论2019/7/2 20:41:53 2019/7/2 20:41:53
- 红外光电及焦平面组件测试和试验标准讨论目前电子系统中主要是制冷型的红外光电焦平面组件,其测试和试验主要依据GJB”47⒛1l《红外焦平面探测器制冷组件通用规范》进行。该通用规范规...[全文]
- 液晶显示器2019/7/2 20:37:42 2019/7/2 20:37:42
- 液晶显示器1.概述液晶显示器(LCD)具有电磁辐射极弱、体积小,厚度薄、质量轻、低功耗、低工作电压等优点。GS72108ATP根据光源产生处理方式的不同,大面积显示的...[全文]
- 测试技术发展趋势2019/7/1 20:28:54 2019/7/1 20:28:54
- 测试技术发展趋势1.电阻器在未来,电阻器技术将继续向小型化、片式化、高精度、阵列化、耐高温高压、高可靠、高阻和低阻方向发展。电阻器的测试技术向着高效率和高精度的方向发...[全文]
- 平均输出功率额定值大于0.8W的变压器2019/7/1 20:21:10 2019/7/1 20:21:10
- 一般情况下,平均输出功率额定值大于0.8W的变压器,以及直流电阻与额定电流平方的乘积大于02W的电感器均应进行温升试验,每一绕组的温升应按电阻变化法进行测量,K2B110FMD4TBH按下列公式...[全文]
- 金属箔法是用一张金属箔紧密地裹住电容器的本体2019/6/30 18:20:17 2019/6/30 18:20:17
- 其中,试验C外部绝缘适用于非金属外壳或绝缘金属外壳中的绝缘型电容器。GBLC12C其施加测量电压的方式主要有两种:金属箔法和V形金属块法。金属箔法是用一张金属箔紧密地裹住电容器的本...[全文]
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