- 元器件操作2016/4/11 20:34:20 2016/4/11 20:34:20
- 当选中源库中的元器件时，方向AD7549JN指向器变成◆，表示元器件按钮操作是对源库中的元器件操作。对于系统库，此时Order、SelectAll、UnselectAll、CopyItems和I...[全文]
- Dump Library2016/4/11 20:30:44 2016/4/11 20:30:44
- DumpLibrary单击DumpI。ibrary按钮，AD7545KN弹出源库中当前的相关信息以及选中的元器件的信息。如图3-5所示。单击窗口中的Clipboard按钮可以将库信...[全文]
- 元器件库管理2016/4/11 20:27:50 2016/4/11 20:27:50
- SchematicCapture库包括元器件库、符号库和封装库，从结构上可以分为系统库和用户库。AD7543JN系统库为只读，不能进行修改操作。本节只介绍元器件库。在...[全文]
- Category(类)2016/4/11 20:26:09 2016/4/11 20:26:09
- Category(类)SchematicCapture元AD7542GBQ器件共有36个子类，包括34858个元器件，各类的功能如表3-1所示。表3-1元件库类及功能...[全文]
- 查看某类元器件的封装命令2016/4/10 17:13:10 2016/4/10 17:13:10
- 查看某类元器件的封装命令(PackageAllocation)进入对象选择模式，HCPL-7710在对象选择器中选中元器件，例如XTAL．右击，在弹出的快捷菜单中选择Package...[全文]
- Schematic Capture其他模式aa工具2016/4/9 20:22:57 2016/4/9 20:22:57
- 前面已经介绍了ComponentMode、BusesMode和WireLabelMode，本节继续学习其他与原理图绘制有关的模式，即选择模式、接点模式、HA17393A-E-Q文本脚本模式和终端...[全文]
- TDP算法在每次循环中都选择若干主节点作为时钟源2016/4/8 20:38:22 2016/4/8 20:38:22
- TDP算法在每次循环中都选择若干主节点作为时钟源，这些主节点间的时钟偏差都控制在较小的范围内，因此最终所有节点都同步到“均匀”时间附近，D61110GM彼此的时钟偏差都控制在设定范围内。时间扩散...[全文]
- 接收节点只须交换自己记录的2016/4/8 20:28:04 2016/4/8 20:28:04
- 时间同步问题已经成为传感器网络能否在各个领域中有效应用的关键问题之一，D25N03A已经有不少无线传感器网络时间同步协议被提出。这些协议采用的同步方式各不相同，下面简单介绍几种比较典型的时间同步...[全文]
- 元件密度的增加带来了连线问题2016/4/7 22:44:24 2016/4/7 22:44:24
- 随着特征图形尺寸的减小，在制造AD8065ARZ工艺中减小缺陷密度和缺陷尺寸的需求就变得十分关键r。在尺寸为100IJm的晶体管上有一个l¨m的灰尘可能不是问题，但对于一个1斗m的晶体管来说1h...[全文]
- 集成电路足在称为晶圆2016/4/7 22:42:55 2016/4/7 22:42:55
- 芯片密度从小规模集成电路(SSI)发展到甚大规模集成电路(ULSI)的进步推动更大尺寸芯片的开发。AD8052ARZ-REEL7分立器件和SSI芯片边长平均约为IOOmil（0.1英寸），而UL...[全文]
- 鼠标操作特点2016/4/5 19:43:13 2016/4/5 19:43:13
- 单击鼠标左键（简称单击）：放置AXE620124元器件、连线或者选中元器件。单击鼠标右键（简称右击）：放弃放置元器件，选择元器件并弹出快捷菜单，选中导线，弹出快捷菜单等。...[全文]
- 电路原理图设计2016/4/5 19:21:13 2016/4/5 19:21:13
- 前面介绍了SchematicCapture系统参数的设置，本节ATA6660-TAPY-19主要讲解在ISISSchematicCapture环境下的原理图绘制。新建原理图文件...[全文]
- Voltage／Current Ranges(电压／电流值范围设置)2016/4/5 19:03:25 2016/4/5 19:03:25
- Voltage／CurrentRanges(电压／电流值范围设置)MaximumVoltage:最大电压值，AM29LV160MB-90EI一般设置为电路中的最大电压值，单位为伏(...[全文]
- 互连线上覆盖介质膜2016/4/4 20:45:58 2016/4/4 20:45:58
- 互连线上覆盖介质膜（钝化层）后，不仅可防止铝条的意外划伤，AD8114ASTZ防止腐蚀及离子沾污，也可提高其抗电迁移及电浪涌的能力。介质膜能提高抗电迁移的能力，是因为其表面覆盖有介质时可...[全文]
- 质量良好的栅氧化层2016/4/4 20:39:07 2016/4/4 20:39:07
- 20世纪90年代以来，AD711SQ/883B些研究者对栅氧击穿的物理过程及统计方法提出了一种新的看法，还没有正式名称，这里称为薄栅氧化层与高电场有关的物理／统计模型。1．前提...[全文]
- 电流呈丝状形式漂移穿过Si02016/4/4 20:38:02 2016/4/4 20:38:02
- 具体击穿过程一般认为是一个热、电过程AD623AR。隧穿电流与阴极场强有关。这涉及Si-Si02（或Al-Si0：）界面不可能绝对平整，微观上可能存在一些突起，使局部电场增强，也可能氧化层中某处...[全文]
- 在电子元器件内部及界面处会发生各种物理和化学的变化及效应2016/4/2 10:59:41 2016/4/2 10:59:41
- 在外界热、电、机械等应力的作用下，在电子D1877JR元器件内部及界面处会发生各种物理和化学的变化及效应，这些效应会对电子元器件的正常工作造成不良影响或构成威胁，严重时会引起失效，对此方面的研究...[全文]
- 在确定失效率等级时还有一个置信度的选取问题2016/4/2 10:48:57 2016/4/2 10:48:57
- 在确定失效率等级时还有一个置信度的选取问题，定级和升级试验的置信度一般取60%，AD1856N只有在有特殊要求时，才选取90%。这是因为失效率试验的抽样方案与一般质量检验的计数抽样方案不...[全文]
- 通过试验来确定电子元器件的可靠性特性值2016/4/2 10:44:47 2016/4/2 10:44:47
- 1)通过试验来确定电子元器件的可靠性特性值。试验暴露出在设计、材料、AD1849KP工艺阶段存在的问题和有关数据，这对设计者、生产者和使用者都是非常有用的。2)通过可靠性鉴定试验，...[全文]
- 恒定应力加速寿命试验2016/4/1 22:20:30 2016/4/1 22:20:30
- (1)恒定应力加速寿命试验它是在高于正常应力的几个应力水平下，将一定数量的样品分成相应组数，A1020APL84C每组固定一个应力水平进行寿命试验，一直试验到每组样品有一定数量的样...[全文]
公网安备44030402000607
