光电耦合器的检测
发布时间:2013/9/24 19:54:16 访问次数:796
光耦发、收互独立,三步检测要熟悉,
先测发管单导电,正、反电阻有差异,
再测收管集、发阻,换笔互测无区别,
三测收、发绝缘阻,应测两次无阻值,
三次检测差一次,光耦不良应放弃。
传输性能好与坏,输入加压测VT,
输入有压VT通,断开电压VT截。
由于光电耦合器中的发射管与接收管是互相独立的,NCP5424DR因此在测试中可用万用表分别检测这两部分,测量分三步进行。
(1)将万用表拨置R×lOOQ或R×lkfl,)挡测量发射管的正、反向电阻,检测其单向导电性能。发光二极管具有一般二极管的单向导电的特性,即正向电阻小,反向电阻大。例如,用MF47型万用表R×100C1挡测PC817型光耦合器的发光二极管,正向电阻为3kfl,反向电阻为无穷大,如图2 -97所示。如果测量结果是正反向电阻非常接近,表明发光二极管性能欠佳或已损坏。检查时,不能使用R×lOkfl挡。因为发光二极管工作电压一般在1.5~2. 3V,而R×lOkfl挡电池电压为9—15V,会导致发光二极管击穿。
(2)分别测量接收管的集电结与发射结之间的电阻。将黑表笔接c极,红表笔接e极,表针应只有微动。对换两表笔再测,表针应不动。也就是说,无论正反向测量其阻值均为无穷大,否则光敏三极管已损坏。
光耦发、收互独立,三步检测要熟悉,
先测发管单导电,正、反电阻有差异,
再测收管集、发阻,换笔互测无区别,
三测收、发绝缘阻,应测两次无阻值,
三次检测差一次,光耦不良应放弃。
传输性能好与坏,输入加压测VT,
输入有压VT通,断开电压VT截。
由于光电耦合器中的发射管与接收管是互相独立的,NCP5424DR因此在测试中可用万用表分别检测这两部分,测量分三步进行。
(1)将万用表拨置R×lOOQ或R×lkfl,)挡测量发射管的正、反向电阻,检测其单向导电性能。发光二极管具有一般二极管的单向导电的特性,即正向电阻小,反向电阻大。例如,用MF47型万用表R×100C1挡测PC817型光耦合器的发光二极管,正向电阻为3kfl,反向电阻为无穷大,如图2 -97所示。如果测量结果是正反向电阻非常接近,表明发光二极管性能欠佳或已损坏。检查时,不能使用R×lOkfl挡。因为发光二极管工作电压一般在1.5~2. 3V,而R×lOkfl挡电池电压为9—15V,会导致发光二极管击穿。
(2)分别测量接收管的集电结与发射结之间的电阻。将黑表笔接c极,红表笔接e极,表针应只有微动。对换两表笔再测,表针应不动。也就是说,无论正反向测量其阻值均为无穷大,否则光敏三极管已损坏。
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