SN54ABT8245/SN74ABT8245/SN54ABT853/SN74ABT853扫描测试装置
发布时间:2011/7/5 9:42:56 访问次数:454
SN54ABT8245/SN74ABT8245/SN54ABT853/SN74ABT853扫描测试装置与八进制总线收发器电路的基本特性：
1) 符合IEEE标准；
2) 1149.1.1990 (JTAG)标准的测试接入端口和边界扫描结构；
3) 输出伪随机模式；
4) 采样输入/切换输出；
5) 输出二进制计数；
6) 为了增加灵活性，每个I/O接口有两个边界扫描单元；
7) 先进技术EPIC-IIBE BiCMOS设计大大降低了功耗；
8) SN54ABT8245/SN74ABT824524引脚SOIC封装。
SN54ABT8245/SN74ABT8245/SN54ABT853/SN74ABT853扫描测试装置与八进制总线收发器电路的基本特性：
1) 符合IEEE标准；
2) 1149.1.1990 (JTAG)标准的测试接入端口和边界扫描结构；
3) 输出伪随机模式；
4) 采样输入/切换输出；
5) 输出二进制计数；
6) 为了增加灵活性，每个I/O接口有两个边界扫描单元；
7) 先进技术EPIC-IIBE BiCMOS设计大大降低了功耗；
8) SN54ABT8245/SN74ABT824524引脚SOIC封装。
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