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智能卡的卡体测试

发布时间:2008/11/22 0:00:00 访问次数:488

  目前,有一份标准可用于测试有或无芯片的卡,它就是iso/iec 10323标准。在欧洲,还有en 1292标准, 但它是专用于智能卡和终端的,包括了它们的一般电气需求。有关的卡标准经常关系到标准中规定的特性检 验的单项测试和测试步骤。

  以下各项中,按字母表顺序简明地叙述了许多关于智能卡常用的测试和检验,参看图1。卡制造商的测试实 验室通常有卡的100~150项不同测试的一览表。


图1 卡体测试的分类选择(每项单独的卡要素:全息图像、磁条、芯片等等,都需要进行一系列的测试)

  环境条件是测试环境标准化的基本需求,这就是说在测试实验室内必须保持温度为23℃±3℃而相对湿度 在40%~60%之间,被测卡必须在这种条件下适应24小时以上的时间,才能进行实际测试。

  1,磁条的磨损测试

  (根据:iso 7811-2;测试规程:iso/iec,10373)

  为了了解磁条对磨损的反映如何,首先把测试数据写入磁条,然后用一哑读/写头,其硬度为110hv至 130hv而曲率半径为10mm,沿磁条以.5n的外加力来来往往地移动1 000次,接着再读出数据,信号幅度必须 在iso 7811-2所规定的范围之内。

  2,附着力或粘结成块

  (根据:iso 7810;测试规程:iso/iec 10373)

  此项测试检查在某种环境条件下存储之卡的形状改变,5张未凸印之卡叠在一起,并在40℃与90%的相对温度时均匀地受到2.5kpa的压力48小时,然后检查分层、变色、表面变化以及其他可视的改变。

  3.弯曲刚度

  (根据:iso 7810;测试规程:iso/iec 10373)

  为了确定卡是否具有所需的弯曲的刚度,卡的左端以30mm的深度被夹紧,卡的正面向下。首先在无负荷的情况下测量弯曲量,然后,在卡的另一端边缘上施以0.7n的负荷,计算在有负荷和无负荷两种情况下弯曲量之差,结果就表明了卡的刚度,弯曲刚度测试通常还在比一般测试温度23℃高或低的温度时执行。

  4,抗化学性

  (根据:iso 7810,iso 7811-2;坝刂试规程:iso 10373)

  卡体和磁条的抗化学性使用这些测试来考查。在温度为20℃~25℃之间,将不同的卡放于下列准确规定的液体之中。

  ·5%的氯化钠溶液;

  ·5%的乙酸溶液;

  ·5%的碳酸钠溶液;

  ·60%的乙醇溶液;

  ·汽油(按照iso 1817);

  ·50%的乙二醇溶液。

  一分钟后从溶液中取出卡并或用目测或用磁条阅读器进行测试。

  5,动态弯曲压力

  (根据:iso 7816-1;测试规程:iso/iec 10373)

  图2中说明了动态弯曲应力,卡以每分钟30次的速率(0.5hz)弯曲,沿长度方向为2cm而沿宽度方向为lcm(r),在四个可能的方向的每个方向上至少弯曲250次(总数为1 000次循环);卡必须不被损坏。


图2 动态弯曲应力测试时,卡如何加载的图解

  6.动态扭转应力

  (根据:iso 7816-1;测试规程:iso/iec lo-373)

  在动态扭转应力测试时,卡沿纵长轴以每分钟扭曲30次的速率(0.5hz)扭转±15。。标准要求在经受1 000次扭转循环后,卡的功能不应失效、卡也不能有可见损坏。

  7,触点电阻和触点阻抗

  (根据:iso 7816-1/2;测试规程:iso/iec 10373)

  触点电阻对卡的微控制器的稳定电源供应和数据传输来说是一项重要的依据。触点电阻用两个探针加在最小可用的矩形触点平面的对角上,施以0.5±0.in之力,探针是半径为0.4mm的圆球形,表面镀金,两探针间的电阻应小于0.5ω。

  8.电磁场

  (根据:iso 7816-1;测试规程:iso/iec 10373)

  在此测试中,卡以lcm/s的最大速率移动到一个强度为10 00 oe(79.580h)的静态电磁场中,卡的存储器的内容应没有改变。

  9可燃性

  (根据:iso 7813;坝刂试规程:iso/iec 10373)

  卡的可燃性用喷灯来测量,测量时以45°角夹持着一边放在规定的喷灯光焰中(直径8.5mm,高25mm)30s。

  10.磁通量改变的空间变化

  (根据:iso 7811-2;测试规程:iso/iec 10373)

  这项测量决定在磁条中个别位编码的磁通量改变是否均匀和有足够的强度,一读磁头沿磁条通过并记录下磁场的变化,测量结果与iso 7811-2中的规定值相比较。

  1 1.字符压印凸纹高度

  (根据:iso 7811-1;测试规程:iso/iec 10373)

  在此测试中,用一测微计测量凸印处的厚度,所施之力在3.5n至5.9n之间。

  12.磁条的高度和表面轮廓

  (根据:iso 78 1 1

  目前,有一份标准可用于测试有或无芯片的卡,它就是iso/iec 10323标准。在欧洲,还有en 1292标准, 但它是专用于智能卡和终端的,包括了它们的一般电气需求。有关的卡标准经常关系到标准中规定的特性检 验的单项测试和测试步骤。

  以下各项中,按字母表顺序简明地叙述了许多关于智能卡常用的测试和检验,参看图1。卡制造商的测试实 验室通常有卡的100~150项不同测试的一览表。


图1 卡体测试的分类选择(每项单独的卡要素:全息图像、磁条、芯片等等,都需要进行一系列的测试)

  环境条件是测试环境标准化的基本需求,这就是说在测试实验室内必须保持温度为23℃±3℃而相对湿度 在40%~60%之间,被测卡必须在这种条件下适应24小时以上的时间,才能进行实际测试。

  1,磁条的磨损测试

  (根据:iso 7811-2;测试规程:iso/iec,10373)

  为了了解磁条对磨损的反映如何,首先把测试数据写入磁条,然后用一哑读/写头,其硬度为110hv至 130hv而曲率半径为10mm,沿磁条以.5n的外加力来来往往地移动1 000次,接着再读出数据,信号幅度必须 在iso 7811-2所规定的范围之内。

  2,附着力或粘结成块

  (根据:iso 7810;测试规程:iso/iec 10373)

  此项测试检查在某种环境条件下存储之卡的形状改变,5张未凸印之卡叠在一起,并在40℃与90%的相对温度时均匀地受到2.5kpa的压力48小时,然后检查分层、变色、表面变化以及其他可视的改变。

  3.弯曲刚度

  (根据:iso 7810;测试规程:iso/iec 10373)

  为了确定卡是否具有所需的弯曲的刚度,卡的左端以30mm的深度被夹紧,卡的正面向下。首先在无负荷的情况下测量弯曲量,然后,在卡的另一端边缘上施以0.7n的负荷,计算在有负荷和无负荷两种情况下弯曲量之差,结果就表明了卡的刚度,弯曲刚度测试通常还在比一般测试温度23℃高或低的温度时执行。

  4,抗化学性

  (根据:iso 7810,iso 7811-2;坝刂试规程:iso 10373)

  卡体和磁条的抗化学性使用这些测试来考查。在温度为20℃~25℃之间,将不同的卡放于下列准确规定的液体之中。

  ·5%的氯化钠溶液;

  ·5%的乙酸溶液;

  ·5%的碳酸钠溶液;

  ·60%的乙醇溶液;

  ·汽油(按照iso 1817);

  ·50%的乙二醇溶液。

  一分钟后从溶液中取出卡并或用目测或用磁条阅读器进行测试。

  5,动态弯曲压力

  (根据:iso 7816-1;测试规程:iso/iec 10373)

  图2中说明了动态弯曲应力,卡以每分钟30次的速率(0.5hz)弯曲,沿长度方向为2cm而沿宽度方向为lcm(r),在四个可能的方向的每个方向上至少弯曲250次(总数为1 000次循环);卡必须不被损坏。


图2 动态弯曲应力测试时,卡如何加载的图解

  6.动态扭转应力

  (根据:iso 7816-1;测试规程:iso/iec lo-373)

  在动态扭转应力测试时,卡沿纵长轴以每分钟扭曲30次的速率(0.5hz)扭转±15。。标准要求在经受1 000次扭转循环后,卡的功能不应失效、卡也不能有可见损坏。

  7,触点电阻和触点阻抗

  (根据:iso 7816-1/2;测试规程:iso/iec 10373)

  触点电阻对卡的微控制器的稳定电源供应和数据传输来说是一项重要的依据。触点电阻用两个探针加在最小可用的矩形触点平面的对角上,施以0.5±0.in之力,探针是半径为0.4mm的圆球形,表面镀金,两探针间的电阻应小于0.5ω。

  8.电磁场

  (根据:iso 7816-1;测试规程:iso/iec 10373)

  在此测试中,卡以lcm/s的最大速率移动到一个强度为10 00 oe(79.580h)的静态电磁场中,卡的存储器的内容应没有改变。

  9可燃性

  (根据:iso 7813;坝刂试规程:iso/iec 10373)

  卡的可燃性用喷灯来测量,测量时以45°角夹持着一边放在规定的喷灯光焰中(直径8.5mm,高25mm)30s。

  10.磁通量改变的空间变化

  (根据:iso 7811-2;测试规程:iso/iec 10373)

  这项测量决定在磁条中个别位编码的磁通量改变是否均匀和有足够的强度,一读磁头沿磁条通过并记录下磁场的变化,测量结果与iso 7811-2中的规定值相比较。

  1 1.字符压印凸纹高度

  (根据:iso 7811-1;测试规程:iso/iec 10373)

  在此测试中,用一测微计测量凸印处的厚度,所施之力在3.5n至5.9n之间。

  12.磁条的高度和表面轮廓

  (根据:iso 78 1 1

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