anritsu公司近日更新其高精确度的通用型测量仪器ms269xa系列，增加3d频谱分析仪功能、混附波发射量测、相位杂讯量测与am/fm量测等四项新功能，以支援更有效率的研究发展与无线系统的疑难排解。

　　anritsu高性能信号分析仪ms269xa系列可量测频率为50hz至6ghz，其3d频谱分析仪功能提供了频率与信号强度对时间的3d变化资讯，最大撷取频宽高达125mhz，可稳定地检查突发信号和瞬时干扰信号。其相位杂讯量测范围从100hz到1mhz，与以往仪器约每1分钟量测10个相位杂讯相较，新型ms269xa系列约每3秒便能囊括相同测试。

　　此外，该系列还提供混附波发射量测功能以支援高速混附波测试，根据设定的审验标准，可直接在萤幕上显示pass或fail。在混附波测试要求越严格的数位系统里，进行测试时需要整合高性能且昂贵的滤波器和放大器。不过这样的窘境已经改观，ms269xa系列拥有极佳的动态范围，使得整合低成本滤波器和放大器的混附波量测变成可能。

　　am变化和fm偏移测量一直很难在one-touch功能中展现，而anritsu高性能信号分析仪的am量测包含了最大、最小和平均功率，而fm量测数据包含高频和低频的限制，以及平均频率，使得量测am/fm无线电设备只要one-touch就可实现。