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测试入门简介

发布时间:2008/6/5 0:00:00 访问次数:868

1----测试简介
2----测试硬件简介---测试机(tester)
3----测试硬件简介---测试手臂(handler and prober)
4----测试硬件简介---探针卡(prober card)
5----测试硬件简介---测试座(socket)
6----测试硬件简介---测试板(loadboard and wpi)
7----测试方法简介---开短路测试(openshort)
8----测试方法简介---漏电路测试(pin leakage)
9----测试方法简介---level测试(vil/vih,vol/iol,voh/ioh)
10----测试方法简介---电源电流测试(idd)
11----测试方法简介---ac测试
12----测试方法简介---功能测试(fouctional test)
13----测试方法简介---扫描测试(scan test)
14----测试方法简介---自建测试(bist test)
15----测试方法简介---混频测试(adc)
16----测试方法简介---混频测试(dac)
17----测试程序开发(test program create)
18----测试开发---基于缺陷开发final test 程序技术(dot-ft)
19----测试开发---多头测试技术(multi-sites test)
20----测试开发---多核测试技术(multi-ports test)
21----如何debug


1----测试简介
2----测试硬件简介---测试机(tester)
3----测试硬件简介---测试手臂(handler and prober)
4----测试硬件简介---探针卡(prober card)
5----测试硬件简介---测试座(socket)
6----测试硬件简介---测试板(loadboard and wpi)
7----测试方法简介---开短路测试(openshort)
8----测试方法简介---漏电路测试(pin leakage)
9----测试方法简介---level测试(vil/vih,vol/iol,voh/ioh)
10----测试方法简介---电源电流测试(idd)
11----测试方法简介---ac测试
12----测试方法简介---功能测试(fouctional test)
13----测试方法简介---扫描测试(scan test)
14----测试方法简介---自建测试(bist test)
15----测试方法简介---混频测试(adc)
16----测试方法简介---混频测试(dac)
17----测试程序开发(test program create)
18----测试开发---基于缺陷开发final test 程序技术(dot-ft)
19----测试开发---多头测试技术(multi-sites test)
20----测试开发---多核测试技术(multi-ports test)
21----如何debug


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