本文将介绍最新的10位tft源驱动器的以下4条主要测试要求和与之相对应的充实，高效的分析工具。

　　●高速i／f对应

　　●高精度灰阶测试

　　●lcd上升波测试

　　●高速演算灰阶数据

1、高速i／f对应

　　表1是日前主要的一些大屏源驱动器(largepanel source driver)的接口标准。由于在一定时间内要求输入数据的增多，像mini-lvds，rsds之类的接口已经无法满足其速度，随之出现了像fp-lvds，ppml这样的接口，它的时钟频率可达250mhz(data rate达500bps)。

　　横河电机公司生产的测试系统st6730，最高时钟频率可达375mhz(最高数据速率可达750mbps)。图3是实际驱动器的一shmoo图，电源电压3v的时候，被测驱动器的最高时钟频率竟然可达300mhz(数据速率可达600mhz)。

2、高精度灰阶测试

　　随着解像度的提高，驱动器的位数也不断提高。为此，灰阶的测试精度也必须跟着提高。如果8位驱动器的振幅是18v的话，平均35mv／1灰阶，而同样的10位驱动器将是9mv／1灰阶。一般来说，测试系统的测试精度是跟输入电压成反比的，输入电压越高，测试精度越低。用st6730进行测试的话，输入电压不管是0 v，10 v还是20 v，最大的pin间偏差都只有0.5mv(如图4所示)。

3、lcd上升波测试

　　最近屏制造商(panel maker)提出下面2项测试项目。

　　●lcd输出的slew rate差

　　●lcd输出波形差

(1) lcd输出的slewrate差

　　lcd输出的slew rate不一致的话，画面就会出现图5(左边)似的一道一道的竖线。lcd输出的slew rate的差值是因为驱动器各lcdpin的lcd输出能力不同而引起的，因此，我们可以通过dc测试来判断lcd输出的slew rate是否有差异。

　　一般情况下，dc测试的话，用dc模块，电流输出电压测试或者电压输入电流测试。但是，如果各pin的输入电流很大的话，同时可以测试的pin数就非常有限(如图6(左)所示)。因为电源的驱动能力有限，而且由于各同定电阻的存在测试精度也会受到很大的影响。这样一来，测试次数要增多，测试所需时间也大大增加。

　　st6730的各lcd pin上的有效负载(activeload)模块的开关可以在线控制，并且还可以与图形(pattern)同期在线控制。于是lcd输出能力的dc测试可以用下面的方法来替代：

　　①只对要测试的lcdpin设定有效负载(activeload)值和阈值。

　　②在图形(pattern)走行的同时，顺序地切换各lcdpin的有效负载(active load)开关

　　③当开关开通时，用各pin数字转换器(perpin digitizer)来测试各lcdpin的电压。

　　于是测试速度比dc模块测试要大大加快。该测试方案对于电流测试有求的器件，比如ron测试也同样适用。

(2) lcd输出波形差

　　lcd输出波形不一样的话，画面就会出现图5(右边)似的斑驳。lcd输出波形是否相同的测试，也就是lcdpin的ac测试。我们可以用st6730的各pin数字转换器(per pin digitizer)同时对所有lcdpin在特定的两个时间(t1，t2)进行测试，然后看是不是所有lcdpin的测试值的差(△v1，△v2，△v3…)都一样。

4、高速演算灰阶数据

　　从8位驱动器到10位驱动器，灰阶数据增加了4倍。另外，随着测试精度的提高，演算种类也会不断增多。为此，横河电机公司开发了名为“arrav u-nit”的高速数据处理器。图8是“array unit”的框图。它有以下的特点：

　　◇演算函数可以自由定义。

　　◇可以在120毫秒内完成10位驱动器的灰阶数据的演算。

　　◇10位驱动器全pin全灰阶数据的变数可以同时定义408个。

　　用“array unit”进行灰阶数据的演算不但演算速度加快，还可以将演算处理与其他测试同时进行(灰阶数据演算的背景(background)化)，使得灰阶数据的演算时间几乎可以缩小到零，测试所需时间大大缩短(如图9所示，使用“array unit”后，测试时间只有原来的50％)。

5、与上述测试要求相对应的充实，高效的分析工具