摘要：介绍了通过labview编程环境，运用系统集成的方法，集成具有gpib接口的测试设备，实现数字电路测试系统向混合信号测试向扩展的方法。并阐述了a/d转换芯片的几种主要测试方法：柱形图分析法、离散参数傅立叶变换法、拍频测试法等的基本原理及实现方法。

关键词：集成电路测试 混合信号测试 系统集成

所谓的混合信号测试，是指对a/d、d/a、锁相环等兼有数字和模拟两种信号的混合电路芯片的测试。混合信号测试的测试时间长、费用高、测试系统结构复杂，在实现上具有一定难度。而数字电路测试系统有着出色的测试能力，如足够的向量深度、灵活的数据格式、常规的交直流参数测试能力等。添加必要的程控模拟源以及模拟信号测试设备，运用系统集成的方法，用高信噪比的数字电路测试系统以及带有gpib或vxi接口的设备构造a/d、d/a待转换芯片的测试环境，完全可扩展到混合信号电路的测试领域，可以在一定程序上解决混合信号测试的问题。

由ni公司出品的labview语言，是一种图形化编程语言，也是最通用的工程测试语言。labview本身附带的软件包提供了大量带有gpib接口的可程控测试设备的驱动程序，在测试程序中添加这些现在的驱动程序模块，很容量实现对外部设备的操作，使软件编程变量非常简单；labview库函数中的dsp函数，可以方便地进行数据处理，作频谱分析。

选用labview构成测试的软件环境，运用系统集成的方法实现数字电路测试系统向混合信号测试的扩展，可以依据不同的测试品种和测试要求，对系统灵活地加以配置，不管是软件编写还是硬件集成都非常方便、灵活、快捷。在构筑测试系统时，要充分考虑到以下三方面问题：系统中各部分的同步协调工作、降低系统噪声、阻抗匹配。

1 a/d转换芯片的测试环境构成

1.1 硬件构成

测试系统的硬件框图如图1。该系统的工作原理是：在sub工作站运行的测试程序通过gpib接口程控任意波形发生器产生所需要的测试波形；由数字电路测试系统产生测试a/d转换芯片所必需的数字激励并获取数字响应信号。在测试过程中，每次启动a/d转换的同时提供任意波形发生器的时钟脉冲信号，保证测试的同时进行，同时读入a/d转换器的数字输出信号；测试完毕后从数字电路测试系统的内存中读出转换数据，并进行处理。

高分辨率a/d的测试对测试系统本身的噪声性能有较高的要求。测试系统必须具有分辨小信号的能力，如果系统噪声太大，滤波不干净，就会扭曲测试结果，甚至无法进行测试。我们使用的数字测试系统为ims公司的ats60e测试系统，信噪比可达到90～124db，可以测试16bit音频a/d，完全可以满足测试的要求。而且系统除了图表化的编程界面外，还提供labview以及c语言的编程环境，很容易对测试过程进行控制。

任意波形发生器内部的存储空间存储数字化的波形，输出时通过d/a将数字信号转化为模拟信号。一般来说，输出频率和分辨率两个指标不可兼得。可以根据测试的a/d品种选择高速、低分辨率或低速、高分辨率的设备。对普通的音频a/d来说，pragmatic 2711（16位，2mhz）是较好的选择。任意波形发生器产生的a/d常用测试波形一般有斜波（或三角波）和正弦波两种：斜波主要用来测量静态参数，正弦波用来测动态参数。在任意波形发生器后接高阶有源滤波器，以平滑由于波形发生器内部d/a存在量化误差所产生的测试波形上的锯齿，减少测试信号的失真。对高频电路测试，一般测试系统阻抗都为50ω，要充分考虑到阻抗匹配的问题，以保证信号的最大通过和最小反射。