产品研发阶段的设计工程师采用的仿真模型，包括从s参数数据提取的rf参数和i-v/c-v数据。先进的设计工具要求的是统计模型，不是单个的一套参数。这使得良率和功能特性的最优化成为可能。如果i-v和c-v参数基于统计结果，而rf不是的话，那么这个模型就是非物理的和不可靠的。

在有些情况下，比如电感、i-v和c-v信息的价值都非常有限。但是，q在使用的频率之下，作为电感表征和控制的参数，则具有很高的价值。i-v和c-v测试中面临的挑战是要理解，什么时候它是产品特性的主要表征，什么时候不是。许多模拟和无线器件特性的只要表征参数是ft和fmax。理想的情况下，在第3谐波以外的使用情况下，它们是需要测量并提取出来的rf参数。对于数字和存储器产品，只要器件的模型保持简化，那么i-v和c-v对于有源和无源器件来说都是很有价值的测量项目。前面提到的，栅介质的测量具有复杂的c-v模型。