美国国家仪器有限公司（national instruments，简称ni）推出ni pci-5124，这是倍受欢迎的基于pxi的12位、200 ms/s数字化仪的基于pci接口的产品。ni pxi-5124 和ni pci-5124这两款数字化仪使用了最新技术，在两个150 mhz带宽的输入信道中进行同步采样，可达到高达75 dbc的sfdr（spurious-free dynamic range）。这两款设备均基于ni同步和存储核心（synchronization and memory core，smc）构架，具备每通道512 mb板载内存、快速数据传输和紧密的同步功能。设计和测试领域的工程师们可以在几十皮秒内同步基于smc的模块化仪器，用于高通道和混合信号应用。

　　ni 5124数字化仪在高采样率情况下具有极高的分辨率，因此它可以成为消费电子、军工、航空、半导体和医疗设备等一系列测量应用的理想之选。这些设备还具备以下附加特性，例如：由软件选择的50 ω 和 1 mω输入阻抗、用于重复信号的4 gs/s随机隔行扫描采样（random interleaved sampling ，ris），以及包含视频触发的5个触发模式。

　　测试和设计领域的工程师们可以在产品开发的整个流程（从研发设计到验证和生产）中，用ni的数字化仪快速开发测量系统，并使用ni的 labview、teststand 或 signalexpress等软件所支持的快速开发技术。此外，具有32、 256或512 mb内存选择的 ni频谱测量工具包（ni spectral measurements toolkit）提供了优良的频域测量功能，例如在ni labview 和labwindows/cvi软件中，可以进行功率频谱、峰值功率和频率、内置功率、相邻通道功率，以及3d光谱图等的测量。