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两光栅刻线彼此错开处由于相互挡光作用而成暗带形成亮带

发布时间:2023/4/30 22:08:38 访问次数:104

由光栅的大量刻线形成,对光栅刻线的刻划误差有平均作用,从而能在很大程度上消除光栅刻线不均匀造成的误差。

当两光栅沿栅线的垂直方向做相对移动时,莫尔条纹沿光栅刻线方向移动;光栅反向移动,莫尔条纹亦反向移动。

莫尔条纹的间距是放大了的光栅栅距,它随着光栅刻线夹角汐而改变,而e是很小的,所以莫尔条纹间距等于把微小的栅距扩大了古倍即L≈W/sine≈K。

莫尔条纹移过的条纹数与光栅移过的刻线数相等。


由此可见,机械位移量将在定尺的感应电动势中表现出来。检测定尺中的感应电压,就可以得出位移的数字值。

光栅也是位置检测元件之一。测长用的是长光栅,呈直尺状,.测转角用的为图光栅,呈圆盘形。

在刻线的重合处,光从缝隙中透过形成亮带。两光栅刻线彼此错开处,由于相互挡光作用而成暗带。

这种亮带和暗带形成明暗相间的条纹,称为莫尔条纹。因条纹方向与刻线方向近似垂直,故又称横向莫尔条纹。

莫尔条纹有下列特征:

等栅距形成的莫尔条纹(e≠0)

X―光栅移动方向 y一莫尔条纹移动方向

黑白透射光栅

传感器,1一光源 2―聚光镜 3一主光栅 4一指示光栅 5一光电元件


定尺固定,滑尺可以移动。当滑尺的正、余弦绕组分别通以一定的正、余弦电压激励时,定尺绕组中就会有感应电动势产生,其值是定尺、滑尺相对位置的函数。


由光栅的大量刻线形成,对光栅刻线的刻划误差有平均作用,从而能在很大程度上消除光栅刻线不均匀造成的误差。

当两光栅沿栅线的垂直方向做相对移动时,莫尔条纹沿光栅刻线方向移动;光栅反向移动,莫尔条纹亦反向移动。

莫尔条纹的间距是放大了的光栅栅距,它随着光栅刻线夹角汐而改变,而e是很小的,所以莫尔条纹间距等于把微小的栅距扩大了古倍即L≈W/sine≈K。

莫尔条纹移过的条纹数与光栅移过的刻线数相等。


由此可见,机械位移量将在定尺的感应电动势中表现出来。检测定尺中的感应电压,就可以得出位移的数字值。

光栅也是位置检测元件之一。测长用的是长光栅,呈直尺状,.测转角用的为图光栅,呈圆盘形。

在刻线的重合处,光从缝隙中透过形成亮带。两光栅刻线彼此错开处,由于相互挡光作用而成暗带。

这种亮带和暗带形成明暗相间的条纹,称为莫尔条纹。因条纹方向与刻线方向近似垂直,故又称横向莫尔条纹。

莫尔条纹有下列特征:

等栅距形成的莫尔条纹(e≠0)

X―光栅移动方向 y一莫尔条纹移动方向

黑白透射光栅

传感器,1一光源 2―聚光镜 3一主光栅 4一指示光栅 5一光电元件


定尺固定,滑尺可以移动。当滑尺的正、余弦绕组分别通以一定的正、余弦电压激励时,定尺绕组中就会有感应电动势产生,其值是定尺、滑尺相对位置的函数。


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