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超低抖动(80fs)产品支持5x7mm 3.2x5mm和2.5x3.2mm封装

发布时间:2021/8/18 22:21:04 访问次数:217

新产品进一步扩展了Silicon Labs行业领先的高性能XO/VCXO产品组合,补充了现有的通用(800fs)、低抖动(300fs)和超低抖动(80fs)产品系列,这些系列产品支持5x7mm、3.2x5mm和2.5x3.2mm封装选择,为业界提供了广泛的产品选项。

为了帮助简化振荡器的选择和定制,Silicon Labs提供了一系列基于Web的简易工具:

型号配置工具使得设计人员能够在几分钟内输入设备规格并生成可订购的型号.

振荡器相位噪声查询工具可立即访问数千种相位噪声测量值,从而可以轻松查看各种工作频率范围内的器件相位噪声和抖动性能.

制造商:Texas Instruments 产品种类:门驱动器 RoHS: 详细信息 产品:Isolated Gate Drivers 类型:Half-Bridge 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:SOP-16 激励器数量:2 Driver 输出端数量:2 Output 输出电流:6 A 电源电压-最小:3 V 电源电压-最大:5.5 V 配置:Dual 上升时间:5 ns 下降时间:6 ns 最小工作温度:- 40 C 最大工作温度:+ 125 C 系列:UCC21222 封装:Cut Tape 封装:MouseReel 封装:Reel 输出电压:9.2 V to 18 V 技术:Si 商标:Texas Instruments 逻辑类型:CMOS, TTL 传播延迟—最大值:40 ns 关闭:No Shutdown 湿度敏感性:Yes 工作电源电流:2.5 mA 产品类型:Gate Drivers 工厂包装数量:2500 子类别:PMIC - Power Management ICs 单位重量:187 mg

这新产品发布为需要轻微压缩和密封的应用如暖通空调和工业机械,提供可靠的性能。

我们新推出的产品可帮助半导体制造商、晶圆厂以及外包半导体和测试(OSAT)供应商在日益复杂多样的封装领域满足质量和可靠性的期望要求。

交叉参考搜索工具可帮助需要高性能振荡器的客户找到适合的Silicon Labs第二供应源选项.

DefectWise™系统集成人工智能(AI)作为系统级别的解决方案,可以促进灵敏度、产率以及分类准确度。这些进步保证了缺陷的正确识别和分类,进而实现了卓越的质量控制和良率提升。

(素材来源:eccn和ttic.如涉版权请联系删除。特别感谢)

新产品进一步扩展了Silicon Labs行业领先的高性能XO/VCXO产品组合,补充了现有的通用(800fs)、低抖动(300fs)和超低抖动(80fs)产品系列,这些系列产品支持5x7mm、3.2x5mm和2.5x3.2mm封装选择,为业界提供了广泛的产品选项。

为了帮助简化振荡器的选择和定制,Silicon Labs提供了一系列基于Web的简易工具:

型号配置工具使得设计人员能够在几分钟内输入设备规格并生成可订购的型号.

振荡器相位噪声查询工具可立即访问数千种相位噪声测量值,从而可以轻松查看各种工作频率范围内的器件相位噪声和抖动性能.

制造商:Texas Instruments 产品种类:门驱动器 RoHS: 详细信息 产品:Isolated Gate Drivers 类型:Half-Bridge 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:SOP-16 激励器数量:2 Driver 输出端数量:2 Output 输出电流:6 A 电源电压-最小:3 V 电源电压-最大:5.5 V 配置:Dual 上升时间:5 ns 下降时间:6 ns 最小工作温度:- 40 C 最大工作温度:+ 125 C 系列:UCC21222 封装:Cut Tape 封装:MouseReel 封装:Reel 输出电压:9.2 V to 18 V 技术:Si 商标:Texas Instruments 逻辑类型:CMOS, TTL 传播延迟—最大值:40 ns 关闭:No Shutdown 湿度敏感性:Yes 工作电源电流:2.5 mA 产品类型:Gate Drivers 工厂包装数量:2500 子类别:PMIC - Power Management ICs 单位重量:187 mg

这新产品发布为需要轻微压缩和密封的应用如暖通空调和工业机械,提供可靠的性能。

我们新推出的产品可帮助半导体制造商、晶圆厂以及外包半导体和测试(OSAT)供应商在日益复杂多样的封装领域满足质量和可靠性的期望要求。

交叉参考搜索工具可帮助需要高性能振荡器的客户找到适合的Silicon Labs第二供应源选项.

DefectWise™系统集成人工智能(AI)作为系统级别的解决方案,可以促进灵敏度、产率以及分类准确度。这些进步保证了缺陷的正确识别和分类,进而实现了卓越的质量控制和良率提升。

(素材来源:eccn和ttic.如涉版权请联系删除。特别感谢)

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