Teledyne Imaging测量对3D轮廓传感器进行了分级Z轴范围
发布时间:2021/8/6 19:27:24 访问次数:107
四款兼具出色的降噪和低损耗特性的600V耐压IGBT IPM*1(Intelligent Power Module)“BM6437x系列”,该系列产品可内置于空调、洗衣机等白色家电和小型工业设备(如工业用机器人用的小容量电机等)中,且非常适用于各种变频器的功率转换。
近年来,随着物联网的普及,白色家电和工业设备的自动化进程加速,使得产品的功耗不断增加,为了有效利用有限的地球资源和电力,对进一步降低功耗的需求不断提高,与此同时,对于负责功率转换工作的功率半导体之一IGBT以及配备了IGBT的模块,也提出了进一步降低功耗的要求。

制造商: Infineon
产品种类: MOSFET
RoHS: 详细信息
技术: Si
安装风格: SMD/SMT
封装 / 箱体: TO-263-3
晶体管极性: N-Channel
通道数量: 1 Channel
Vds-漏源极击穿电压: 55 V
Id-连续漏极电流: 80 A
Rds On-漏源导通电阻: 10.7 mOhms
Vgs - 栅极-源极电压: - 20 V, + 20 V
最小工作温度: - 55 C
最大工作温度: + 175 C
Pd-功率耗散: 158 W
通道模式: Enhancement
封装: Cut Tape
封装: MouseReel
封装: Reel
配置: Single
高度: 4.4 mm
长度: 10 mm
晶体管类型: 1 N-Channel
宽度: 9.25 mm
商标: Infineon Technologies
下降时间: 13 ns
产品类型: MOSFET
上升时间: 32 ns
工厂包装数量: 1000
子类别: MOSFETs
典型关闭延迟时间: 46 ns
典型接通延迟时间: 11 ns
零件号别名: SP000218177 IPB80N06S2L11ATMA1
单位重量: 4 g

为了实现更大的灵活性,Teledyne Imaging针对工作距离和测量范围对3D轮廓传感器进行了分级(Z轴范围/视野深度)。
Z-Trak2 S和V系列均包含六个型号,水平视野(FOV)从最小的9 mm至最大的980 mm不等,覆盖的焦深包括4、15、30、100、250、600 mm。
凭借着1~120μm的高度分辨率,即便是最小的高度偏差也无法逃脱检测——能够快速、可靠地识别缺陷品,并将其从生产环节中剔除。
四款兼具出色的降噪和低损耗特性的600V耐压IGBT IPM*1(Intelligent Power Module)“BM6437x系列”,该系列产品可内置于空调、洗衣机等白色家电和小型工业设备(如工业用机器人用的小容量电机等)中,且非常适用于各种变频器的功率转换。
近年来,随着物联网的普及,白色家电和工业设备的自动化进程加速,使得产品的功耗不断增加,为了有效利用有限的地球资源和电力,对进一步降低功耗的需求不断提高,与此同时,对于负责功率转换工作的功率半导体之一IGBT以及配备了IGBT的模块,也提出了进一步降低功耗的要求。

制造商: Infineon
产品种类: MOSFET
RoHS: 详细信息
技术: Si
安装风格: SMD/SMT
封装 / 箱体: TO-263-3
晶体管极性: N-Channel
通道数量: 1 Channel
Vds-漏源极击穿电压: 55 V
Id-连续漏极电流: 80 A
Rds On-漏源导通电阻: 10.7 mOhms
Vgs - 栅极-源极电压: - 20 V, + 20 V
最小工作温度: - 55 C
最大工作温度: + 175 C
Pd-功率耗散: 158 W
通道模式: Enhancement
封装: Cut Tape
封装: MouseReel
封装: Reel
配置: Single
高度: 4.4 mm
长度: 10 mm
晶体管类型: 1 N-Channel
宽度: 9.25 mm
商标: Infineon Technologies
下降时间: 13 ns
产品类型: MOSFET
上升时间: 32 ns
工厂包装数量: 1000
子类别: MOSFETs
典型关闭延迟时间: 46 ns
典型接通延迟时间: 11 ns
零件号别名: SP000218177 IPB80N06S2L11ATMA1
单位重量: 4 g

为了实现更大的灵活性,Teledyne Imaging针对工作距离和测量范围对3D轮廓传感器进行了分级(Z轴范围/视野深度)。
Z-Trak2 S和V系列均包含六个型号,水平视野(FOV)从最小的9 mm至最大的980 mm不等,覆盖的焦深包括4、15、30、100、250、600 mm。
凭借着1~120μm的高度分辨率,即便是最小的高度偏差也无法逃脱检测——能够快速、可靠地识别缺陷品,并将其从生产环节中剔除。