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对FPGA或微控制器ESR和电容的EOL值

发布时间:2020/11/13 23:48:39 访问次数:1311

基于最初推测的25 F电容,我们使用标称值得出了所需的4秒备份时间(具有25%的额外裕量)。=如果我们考虑ESR和电容的EOL值,我们的备份时间几乎缩短一半。若要使用电容的EOL值获得4秒备份时间,我们必须至少修改其中一个输入参数。由于它们大多是固定值,因此电容是最容易增加的参数。

将电容增加至45 F,使用45 F时,由于标称值提供了长达9秒的备份时间,增加的幅度似乎很大。但是,通过添加CAPEOL和ESREOL参数,并得出6.2 V最低堆栈电压之后,考虑EOL时的备份时间骤降一半。但是,这仍然满足我们需要4秒备份时间的要求,并且具有5%的额外裕量。

额外的超级电容管理器功能,LTC3350和LTC3351通过集成ADC提供额外的遥测功能。这些部件可以测量超级电容堆栈的系统电压、电流、电容和ESR。

制造商:Amphenol产品种类:环形MIL规格连接器位置数量:6 Position插入安排:10-6触点类型:Pin (Male)MIL 类型:MIL-DTL-26482 II产品:Receptacles外壳大小:10外壳类型:Square Flange安装风格:Panel端接类型:Crimp电流额定值:7.5 A触点电镀:Gold触点材料:Copper Alloy系列:Matrix 26482 II安装角:Straight商标:Amphenol Aerospace外壳电镀:Nickel匹配样式:Bayonet产品类型:Circular MIL Spec Connector外壳材质:Aluminum工厂包装数量:1子类别:Circular Connectors商标名:26482

寄存器(SAR)型模数转换器(ADC)中的片内过采样。常见过采样技术有两种:正常平均和滚动平均。这些技术是在AD7380/AD7381及其高吞吐速率SAR ADC系列中执行的,因此平均转换数据可以直接获得,数字控制器的负担得以减轻,这在数据采集系统中是一个优势。在精密数据采集系统中,信噪比(SNR)和有效位数(ENOB)越高,系统在有宽带噪声的情况下测量信号的性能就越好。

噪声会降低系统性能。降低噪声的方法包括:用分辨率更高的ADC(例如Σ-Δ ADC或SAR ADC)替换该系统,或者进行过采样并使用数字滤波技术。

在其SAR ADC系列中内置了过采样特性。这种过采样特性能够提高噪声性能,简化接口要求,并允许用户直接使用,而无需对FPGA或微控制器进行设计并执行需要消耗大量资源的均值计算。过采样特性还能在可管理的数据速率下尽可能提高数据处理性能。


(素材来源:21ic和ttic.如涉版权请联系删除。特别感谢)

基于最初推测的25 F电容,我们使用标称值得出了所需的4秒备份时间(具有25%的额外裕量)。=如果我们考虑ESR和电容的EOL值,我们的备份时间几乎缩短一半。若要使用电容的EOL值获得4秒备份时间,我们必须至少修改其中一个输入参数。由于它们大多是固定值,因此电容是最容易增加的参数。

将电容增加至45 F,使用45 F时,由于标称值提供了长达9秒的备份时间,增加的幅度似乎很大。但是,通过添加CAPEOL和ESREOL参数,并得出6.2 V最低堆栈电压之后,考虑EOL时的备份时间骤降一半。但是,这仍然满足我们需要4秒备份时间的要求,并且具有5%的额外裕量。

额外的超级电容管理器功能,LTC3350和LTC3351通过集成ADC提供额外的遥测功能。这些部件可以测量超级电容堆栈的系统电压、电流、电容和ESR。

制造商:Amphenol产品种类:环形MIL规格连接器位置数量:6 Position插入安排:10-6触点类型:Pin (Male)MIL 类型:MIL-DTL-26482 II产品:Receptacles外壳大小:10外壳类型:Square Flange安装风格:Panel端接类型:Crimp电流额定值:7.5 A触点电镀:Gold触点材料:Copper Alloy系列:Matrix 26482 II安装角:Straight商标:Amphenol Aerospace外壳电镀:Nickel匹配样式:Bayonet产品类型:Circular MIL Spec Connector外壳材质:Aluminum工厂包装数量:1子类别:Circular Connectors商标名:26482

寄存器(SAR)型模数转换器(ADC)中的片内过采样。常见过采样技术有两种:正常平均和滚动平均。这些技术是在AD7380/AD7381及其高吞吐速率SAR ADC系列中执行的,因此平均转换数据可以直接获得,数字控制器的负担得以减轻,这在数据采集系统中是一个优势。在精密数据采集系统中,信噪比(SNR)和有效位数(ENOB)越高,系统在有宽带噪声的情况下测量信号的性能就越好。

噪声会降低系统性能。降低噪声的方法包括:用分辨率更高的ADC(例如Σ-Δ ADC或SAR ADC)替换该系统,或者进行过采样并使用数字滤波技术。

在其SAR ADC系列中内置了过采样特性。这种过采样特性能够提高噪声性能,简化接口要求,并允许用户直接使用,而无需对FPGA或微控制器进行设计并执行需要消耗大量资源的均值计算。过采样特性还能在可管理的数据速率下尽可能提高数据处理性能。


(素材来源:21ic和ttic.如涉版权请联系删除。特别感谢)

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