解读测试相关标硅

   GB/T 4023-1997《半导体分立器件和集成电路第2部分:整流二极管》是20世纪90年代根据IEC⒎7-2∶1983以及19呢、1993年两次修订的技术内容而制定的。 ECG015《GB/T―1995半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》根据IEC⒎7―3∶1985以及

1991年第一次次修订的技术内容而制定。这两部标准至今在在二极管领域仍在沿用。别主要涉及整流二极管和信号二极管、电压基准二极管、电压调整二极管的一些相关术语、文字符号、额定值和特性、测试方法以及接收和可靠性的相关内容,同时二者结合当时的技术现状在相应EC标准上增加了部分术语以及定义。

    GB/T 4587―1994《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》等同采用IEC7钾-7∶1988,其给出了小功率晶体管(不包括开关用的)、功率晶体管(不包括开关和高频用的)、放大和振荡用高频高频功率晶体管和开关用晶体管的标准,规定了一些相关术语、文字符号、额定值和特性、测试方法以及接收和可靠性的相关内容。GB/T4586-19%《半导体分立器件和集成电路第8部分:场效应晶体管》根据IECTz+7-8∶1984以及1”1年修订的技术内容而制定的。其给出了结栅型、绝缘栅耗尽型以及绝缘栅增强型的标准,规定了一些相关术语、文字符号、额定值和特性、测试方法以及接收和可靠性的相关内容。

   GB/T15291―%《半导体器件第6部分晶闸管》根据IEC  7476∶1983以及1991年修订的技术内容而制定的。其规定了晶闸管的一些术语、文字符号、额定值和特性、测试方法以及接收和可靠性的相关内容。适用于反向阻断晶闸管、双向三极晶闸管、环境额定双向二极晶闸管和反向导通晶闸管。