从这里的计算可以看出,温度波动造成的黑体辐射通量密度的相对变化量与黑体的温度有关,在S29AL016M90TAI010不同波段也是不相同的。总的来说,随着波长的增加黑体辐射通量密度随温度波动的相对变化量逐渐减小;而随着黑体温度的降低,黑体辐射通量密度随温度波动的相对变化量逐渐增大。在天基红外光电系统的正常工作温度范围内(-⒛℃~⒛℃),黑体辐射通量密度随温度波动的相对变化量都较小;而在红外焦平面探测器工作的低温环境下(1OOK以下),黑体辐射通量密度随温度波动的相对变化量较大;在短波红外波段,Κ温度下,黑体单位温度变化造成的辐射通量密度变化量甚至超过了黑体在该温度下该波段内的辐射通量密度。

   为了减小仪器背景辐射随温度波动的变化量,要求天基红外光电系统的温控系统能够保证将系统各元部件的温度控制在一定范围内,并维持温度的稳定度。相应的对于短波红外通道的元部件温度稳定度的要求要高于中波和长波红外通道;低温元部件的温度稳定度要求要高于高温元部件。