位置：51电子网 » 技术资料 » 测试测量

用C51系列单片机设计物体分级设备的测量光幕

发布时间:2007/8/29 0:00:00 访问次数:383

型号：C51
关键字：单片机,　测量光幕,　分级
简介：首先介绍了光幕测量高度的原理 ,给出了高度测量光幕的一种实现方法 ,分析了由该方法设计的系统结构和主要性能。从而彻底解决了相邻通路间的干扰 ,提高了测量精度。
下载：点击下载

型号：C51
关键字：单片机,　测量光幕,　分级
简介：首先介绍了光幕测量高度的原理 ,给出了高度测量光幕的一种实现方法 ,分析了由该方法设计的系统结构和主要性能。从而彻底解决了相邻通路间的干扰 ,提高了测量精度。
下载：点击下载

相关技术资料
6-13VL53L4CX飞行时间传感器应用前景
6-13​高性能传感器芯片和模拟芯片参数设计
6-13​集成MOSFET​同步降压变换器应用探究
6-13​电流监控器 SATAIG 控制双通道限流开关
6-13​ 48 通道 LED 驱动器产品特性和优势
6-13双相非隔离式​高效率降压电源模块
6-12最新一代200万像素图像传感器GC20C3
6-12​新一代​FR306X系列芯片应用详解
6-12​电感单片降压开关模式变换器
6-12KCM0A5S高性能Wi-SUN 模组
6-12​128 通道多位电流输入模数转换器 (ADC)
6-12AI GPU 和 TPU的超高功率密度电源模块
相关IC型号

热门点击

 

推荐技术资料

音频变压器DIY
    笔者在本刊今年第六期上着重介绍了“四夹三”音频变压器的... [详细]
版权所有:51dzw.COM
深圳服务热线：13692101218  13751165337
粤ICP备09112631号-6(miitbeian.gov.cn)
公网安备44030402000607
深圳市碧威特网络技术有限公司
付款方式


 复制成功！